项目 | 内容 |
仪器型号 | S450 |
测量方式 | 漫反射样品池 |
| 探测器 | 日本滨松制冷型铟镓砷（InGaAs） |
光谱带宽nm | 12 |
波长范围nm | 900~2500 |
波长准确性nm | ≤0.2 |
波长重复性nm | ≤0.05 |
杂散光% | ≤0.1% |
波长范围nm | 900~2500 |
波长准确性nm | ≤0.2 |
波长重复性nm | ≤0.05 |
项目 | 内容 |
仪器型号 | S450 |
测量方式 | 漫反射样品池 |
| 探测器 | 日本滨松制冷型铟镓砷（InGaAs） |
光谱带宽nm | 12 |
波长范围nm | 900~2500 |
波长准确性nm | ≤0.2 |
波长重复性nm | ≤0.05 |
杂散光% | ≤0.1% |
波长范围nm | 900~2500 |
波长准确性nm | ≤0.2 |
波长重复性nm | ≤0.05 |
